IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通过最终国际标准版草案(FDIS) 阶段,目前已正式公布。有关电子产品中特定有害物质测定的标准- IEC 62321,概述了电子产品的测试方法,以确定产品中的有害化学物质浓度低于欧盟有害物质限制指令(RoHS)法律中制定的有害化学物质浓度。如同以往,2008版的IEC 62321标准也经过了一段维护周期,现今再将最佳的操作和先进的技术引入测试程序,以确保实验的一致性和可靠度,满足标准的制定。具体内容见下表:
IEC 标准 |
范围 |
62321-1 |
简介和概述 |
62321-2 |
样品的拆卸、拆解和机械拆分 |
62321-3-1 |
使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选 |
62321-3-2 |
使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选 |
62321-4 |
使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞 |
62321-5 |
使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS确定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬,以及金属中的镉和铅 |
这些标准预计公布日期如下: